維度光電 BeamHere 系列為激光光束質(zhì)量檢測(cè)提供高性價(jià)比解決方案： 掃描狹縫式：國(guó)內(nèi)刀口 / 狹縫雙模式切換，覆蓋 190-2700nm 光譜，可測(cè) 2.5μm-10mm 光束，0.1μm 分辨率實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)光斑分析。創(chuàng)新狹縫衰減機(jī)制支持 10W 級(jí)高功率直接測(cè)量，無(wú)需外置衰減片。 相機(jī)式：400-1700nm 寬譜響應(yīng)，支持實(shí)時(shí) 2D/3D 成像與非高斯光束測(cè)量。六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計(jì)擴(kuò)展功率量程，可拆卸結(jié)構(gòu)兼顧工業(yè)檢測(cè)與科研成像需求。 M2 測(cè)試模塊：通過(guò) ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法，測(cè)量 M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等參數(shù)，適配全系產(chǎn)品。 配套 BeamHere 軟件提供直觀操作界面，支持一鍵生成標(biāo)準(zhǔn)化報(bào)告，滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等多場(chǎng)景需求。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)，助力客戶提升效率與產(chǎn)品質(zhì)量。光斑分析儀保修期多長(zhǎng)？維度光電整機(jī) 3 年質(zhì)保，部件 5 年延保。無(wú)干涉光斑分析儀

維度光電BeamHere 光斑分析儀通過(guò)三大價(jià)值賦能激光應(yīng)用： 效率提升：全自動(dòng)化檢測(cè)流程（10 秒完成參數(shù)采集 + 1 分鐘生成報(bào)告），幫助企業(yè)將光束調(diào)試周期縮短 80% 成本優(yōu)化：雙技術(shù)方案覆蓋全尺寸光斑，避免多設(shè)備購(gòu)置，典型客戶設(shè)備采購(gòu)成本降** 65% 質(zhì)量升級(jí)：0.1μm 超高分辨率與 M2 因子分析，助力醫(yī)療激光設(shè)備能量均勻性提升至行業(yè) ±1.2% 典型應(yīng)用場(chǎng)景： 工業(yè)：激光切割光束實(shí)時(shí)校準(zhǔn)，減少 25% 的材料損耗 醫(yī)療：眼科激光手術(shù)光斑能量監(jiān)測(cè)，保障臨床安全性 科研：超快激光脈沖特性，推動(dòng)新型激光器激光發(fā)散角光斑分析儀光斑測(cè)試國(guó)產(chǎn)的 M2 因子測(cè)量模塊哪家強(qiáng)？

維度光電作為全球激光測(cè)量領(lǐng)域解決商，致力于打造 "三橫三縱" 產(chǎn)品矩陣： 橫向覆蓋： 光譜范圍：190-2700nm 全波段 光斑尺寸：0.1μm-10mm 全尺寸 功率等級(jí)：1μW-10W 全功率 縱向深度： 工業(yè)級(jí)：支持產(chǎn)線在線監(jiān)測(cè)與自動(dòng)化對(duì)接 醫(yī)療級(jí)：符合 ISO 13485 認(rèn)證，保障臨床精度 科研級(jí)：開(kāi)放 API 接口支持自定義算法 差異化優(yōu)勢(shì)： 同時(shí)提供雙技術(shù)方案的廠商（狹縫式 + 相機(jī)式） AI 算法庫(kù)支持光束質(zhì)量預(yù)測(cè)性維護(hù) 模塊化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)設(shè)備功能動(dòng)態(tài)擴(kuò)展 適合各類(lèi)激光應(yīng)用中激光光束質(zhì)量測(cè)量與分析。

Dimension-Labs 掃描狹縫式光斑分析儀系列以國(guó)內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù)為，覆蓋 190-2700nm 全光譜，可測(cè) 2.5μm 至 10mm 光束直徑。其 0.1μm 超高分辨率突破傳統(tǒng)設(shè)備極限，捕捉亞微米級(jí)光斑細(xì)節(jié)。 技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 雙模式智能適配：軟件自主切換刀口 / 狹縫模式，解決 < 20μm 極小光斑與 10mm 大光斑的測(cè)量難題 高功率安全檢測(cè)：創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制，無(wú)需外置衰減片即可直接測(cè)量近 10W 激光 超分辨率成像：基于狹縫掃描原理，完整還原光斑能量分布，避免特征丟失 設(shè)備內(nèi)置正交狹縫轉(zhuǎn)動(dòng)輪，通過(guò)旋轉(zhuǎn)掃描同步采集 XY 軸數(shù)據(jù)，經(jīng)算法處理輸出 20 + 光束參數(shù)。緊湊模塊化設(shè)計(jì)適配工業(yè)與實(shí)驗(yàn)室場(chǎng)景，通過(guò) CE/FCC 認(rèn)證，在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作，應(yīng)用于激光加工、醫(yī)療設(shè)備及科研領(lǐng)域，助力客戶提升檢測(cè)精度與效率。國(guó)產(chǎn)光斑分析儀哪個(gè)好？維度光電光斑分析儀全系列。

光斑分析儀通過(guò)光學(xué)傳感器將光斑能量分布轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，結(jié)合算法分析實(shí)現(xiàn)光束質(zhì)量評(píng)估。Dimension-Labs 產(chǎn)品采用雙技術(shù)路線：掃描狹縫式通過(guò) 0.1μm 超窄狹縫逐行掃描，實(shí)現(xiàn) 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度測(cè)量；相機(jī)式則利用面陣傳感器實(shí)時(shí)成像，支持 200-2600nm 全光譜覆蓋。全系標(biāo)配 M2 因子測(cè)試模塊，結(jié)合 BeamHere 軟件，可自動(dòng)計(jì)算發(fā)散角、橢圓率等參數(shù)，并生成符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試報(bào)告。 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)： 滿足測(cè)試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測(cè)試模塊 精心設(shè)計(jì)的分析軟件 軟件真正做到交互友好，簡(jiǎn)單易用，一鍵輸出測(cè)試報(bào)告。光斑分析儀維護(hù)成本？維度光電遠(yuǎn)程指導(dǎo)維修，降低 80% 人工成本。大靶面光斑分析儀怎么測(cè)量

發(fā)散較大，怎么測(cè)量光束質(zhì)量？無(wú)干涉光斑分析儀

使用 BeamHere 光斑分析儀測(cè)量光斑與光束質(zhì)量的流程 1. 成像原理 BeamHere 采用背照式 CMOS 傳感器，量子效率達(dá) 95%（500-1000nm），配合非球面透鏡組實(shí)現(xiàn)無(wú)畸變成像。 2. 信號(hào)處理 采集到的模擬信號(hào)經(jīng) 16 位 ADC 轉(zhuǎn)換，通過(guò)數(shù)字濾波算法消除噪聲，確保弱光信號(hào)（SNR>40dB）還原。 3. 參數(shù)計(jì)算 光斑尺寸：基于高斯擬合與閾值分割法 M2 因子：采用 ISO 11146-1:2005 標(biāo)準(zhǔn)的二階矩法 發(fā)散角：通過(guò)不同位置光斑尺寸計(jì)算斜率 4. 校準(zhǔn)流程 內(nèi)置波長(zhǎng)校準(zhǔn)模塊（400-1700nm），每年需用標(biāo)準(zhǔn)光源進(jìn)行增益校準(zhǔn)，確保測(cè)量精度 ±1.5%。 5. 數(shù)據(jù)安全 測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)加密存儲(chǔ)于本地?cái)?shù)據(jù)庫(kù)，支持云端備份，符合 GDPR 數(shù)據(jù)保護(hù)法規(guī)。無(wú)干涉光斑分析儀